 Bilan du 14e Congrès International de Métrologie
Impression générale et premiers retours reçus très positifs suite au Congrès International de Métrologie qui s'est déroulé du 22 au 25 juin 2009 à Paris.
Au total 750 participants inscrits, avec accès complet à toute la manifestation, sont venus, soit 15% de plus que la manifestation précédente.
A ce chiffre s’ajoutent 200 visiteurs extérieurs qui ont fait uniquement le tour de l’exposition. 48 pays différents étaient représentés au Congrès avec 30% de participants issus de pays étrangers.
Le Congrès confirme qu’il rassemble tous les acteurs de ce milieu :
- 59 % sont des industriels : utilisateurs de moyens de mesure dans tout type de secteur, laboratoires d’analyses, laboratoires de métrologie ou fabricants de matériels...,
- 26 % sont issus des grands organismes nationaux et internationaux : laboratoire national des grands pays européens, Ministères, organisme d’accréditation, organisations internationales...,
- 10 % sont des universitaires ou des chercheurs,
- 5 % d’origines diverses (hôpitaux, organisme de formation, consultant, presse...).
Beaucoup de "premières" également pour cette édition, notamment :
- 6 tables rondes sur l’ensemble du congrès avec des thèmes très actuels dans les domaines du management de l’entreprise, de l’environnement, de la santé ou des perspectives de moyens sans fil,
- le Prix de la Meilleure Conférence orale pour M. Lübbehüsen de GE Sensing et le Prix de la Meilleure Conférence Poster pour Mme Goyon du BIPM,
- des Business Sessions qui ont permis des échanges directs en salle de conférence entre prestataires/fabricants et participants,
- les déjeuners de midi, organisés sous forme de buffet, ont généré plus d’échanges et ont permis de densifier les journées…,
- la journée du jeudi a été très appréciée, les exposants sont aussi restés jusqu’au bout pour profiter de l’apéritif de clôture à partir de 16h. |
